Spectral ellipsometry of La1-xMno3 films with different degree of epitaxy

Počet záznamov: 1

Názov	Spectral ellipsometry of La1-xMno3 films with different degree of epitaxy
Autor	Babonas G.J.
Spoluautori	Reza A.
	Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Pripko Mojmír SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Machajdík Daniel SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

Zdroj.dok.	Journal de Physique IV. Vol. 11, Pr11 (2001), p. 181-185
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	FR - Francúzsko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADC
Rok vykazovania	2002

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2001

Počet záznamov: 1