Počet záznamov: 1
The influence of technology and switching parameters on resistive switching behavious of Pt/HfO2/TiN MIM structures
Názov The influence of technology and switching parameters on resistive switching behavious of Pt/HfO2/TiN MIM structures Autor Paskaleva A. Spoluautori Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Jančovič Peter 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spassov D. Zdroj.dok. Facta universitatis : series: Electronics and Energetics. Vol. 27, (2014), p. 621-630 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Ohlasy ATTARIMASHALKOUBEH, H. - LEBLEHICI, Y. In-depth Structure and Electrical Characteristics Study of HfOx-based Resistive Random Access Memories (ReRAMs). In 2019 IEEE 31ST INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS (MIEL 2019). ISSN 2159-1660, 2019, p. 79-82. Kategória ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2014 článok
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore N rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2014
Počet záznamov: 1