Počet záznamov: 1
Testing of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector
Názov Testing of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS RID ORCID Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Ferrari C. Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 16 (2021), no. P06015 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1088/1748-0221/16/06/P06015 
článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf Prístupný 4.2 MB 1 Autorský preprint Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf Neprístupný/archív 925.3 KB 1 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2021 2020 1.415 Q4 0.741 Q1
Počet záznamov: 1