The amplitude defect of SiC detectors during the recording of accelerated Xe ions

Počet záznamov: 1

Názov	The amplitude defect of SiC detectors during the recording of accelerated Xe ions
Autor	Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
Spoluautori	Gurov J.B.
	Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Rozov S.V.
	Rozov I.E.
	Sandukovsky V.G.
	Skuratov V.A.

Zdroj.dok.	Physics of atomic nuclei. Vol. 82 (2019), p. 1682-1685
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Ohlasy	GAO, Run-Long - LIU, Lin-Yue - RUAN, Jin-Lu - JIN, Peng - OUYANG, Xiao - ZHOU, Lei-Dang - LI, Yang - ZHANG, Si-Long - ZHAO, Kuo - OUYANG, Xiao-Ping. Systematic Analysis of Reliability of Large-Area 4H-SiC Charged Particle Detector Under Harsh He Ion Irradiation. In IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, vol. 68, no. 5, pp. 1169-1174. ISSN 0018-9499. Dostupné na: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3069568.
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2019
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1134/S1063778819120111

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2019	2018	0.458	Q4	0.277	Q3

Počet záznamov: 1