Počet záznamov: 1  

From anomaly detection to defect classification

  1. NázovFrom anomaly detection to defect classification
    Autor Klarák Jaromír 1994- SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS    RID    ORCID
    Spoluautori Andok Robert 1973- SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS    RID    ORCID

    Malík Peter 1980 - SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS    RID    ORCID

    Kuric Ivan

    Ritomský Mário 1993- SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS    RID    ORCID

    Klačková Ivana

    Tsai Hung-Yin

    Zdroj.dok. Sensors. Vol. 24, no. 2 (2024), art. no. 429
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyRAČKI, D. - TOMAŽEVIČ, D. - SKOČAJ, D. Coupling of unsupervised and supervised deep learning-based approaches for surface anomaly detection. In Journal of Electronic Imaging. 2024, vol. 33, no. 3, pp. 031207-031207. doi: 10.1117/1.JEI.33.3.031207.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2024
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.3390/s24020429
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    202420233.4Q20.786Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.