Patterned xy grids and a multistep height sample for calibration of profilometers and scanning probe microscopes.

Počet záznamov: 1

Názov	Patterned xy grids and a multistep height sample for calibration of profilometers and scanning probe microscopes.
Autor	Picotto G.B.
Spoluautori	Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Matay Ladislav 1950- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	Hrkút Pavol 1948- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	Pisani M.

Zdroj.dok.	EUSPEN 1st Conference : Proceedings. P. 203-206. - Bremen, Germany, 1999
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	DE - Nemecko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	1999
Registrované v	WOS

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
1999

Počet záznamov: 1