Počet záznamov: 1
Few-tilt electron ptychotomography: a new method to determine the 3D structure of 2D materials with high-precision and low-dose
Názov Few-tilt electron ptychotomography: a new method to determine the 3D structure of 2D materials with high-precision and low-dose Autor Hofer C. Spoluautori Mustonen K. Skákalová Viera SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pennycook T.J. Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Vol. 28, no. S1 (2022), p. 2526-2527 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2022 DOI 10.1017/S1431927622009655 článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Few-tilt Electron Ptychotomography.pdf Neprístupný/archív 463.1 KB 9 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore N rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2022 2021 4.099 Q1 0.379 Q3
Počet záznamov: 1