Počet záznamov: 1
Structural and electrical properties of amorphous nitrogen doped SiC thin films annealed by pulsed electron beam
Názov Structural and electrical properties of amorphous nitrogen doped SiC thin films annealed by pulsed electron beam Autor Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Šafránková Jaroslava SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hotový I. Kobzev A.P. Balalykin Nikolay I. Zdroj.dok. / Breza J. ASDAM '98. P. 179-182 : Proceedings of the 2nd International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 1998 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 1998 článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 1998
Počet záznamov: 1