Počet záznamov: 1
Tip- Shape effect on the accuracy of capacitance determination by scanning capacitance microscopes
Názov Tip- Shape effect on the accuracy of capacitance determination by scanning capacitance microscopes Autor Lányi Štefan 1944 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Zdroj.dok. / Wilkening G. ; Koenders L. Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range. - Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2005. S. 443-451 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina DE - Nemecko Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2005 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 0
Počet záznamov: 1