Počet záznamov: 1
Simulations and surface quality testing of high asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging applications
Názov Simulations and surface quality testing of high asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging applications Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS RID ORCID Demydenko Maksym 1985 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mikulík P. Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Ferrari C. Vagovič Patrik Mikloška M. Zdroj.dok. Proceedings of the SPIE. Vol. 9207, (2014), 92070Y Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Ohlasy ZHU, J. - JI, M. - MA, S. Influence of asymmetrical angle on crystal lattice strain analysis using Voigt-function method. In ACTA PHYSICA SINICA. FEB 5 2018, vol. 67, no. 3. Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2014 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS DOI 10.1117/12.2061353 článok
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore N rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2014 2013 0.223
Počet záznamov: 1