Počet záznamov: 1
Calculations and surface quality measurements of high-asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging and metrological applications
Názov Calculations and surface quality measurements of high-asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging and metrological applications Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS RID ORCID Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Vagovič Patrik Ferrari C. Mikulík P. Demydenko Maksym 1985 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mikloška M. Zdroj.dok. Optical Engineering. Vol. 54, (2015), 035101 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2015 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1117/1.OE.54.3.035101 
článok
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2015 2014 0.954 Q3 0.458 Q1
Počet záznamov: 1