Počet záznamov: 1  

Imaging the surface potential at the steps on the rutile TiO2(110) surface by Kelvin probe force microscopy

  1. NázovImaging the surface potential at the steps on the rutile TiO2(110) surface by Kelvin probe force microscopy
    Autor Miyazaki Masato Brndiar Ján 1980 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV    RID    ORCID

    Štich Ivan 1959 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV    ORCID

    Spoluautori Wen Huan Fei Zhang Quanzhen Adachi Yuuki Li Yan Jun Sugawara Yasuhiro
    Zdroj.dok. Beilstein Journal of Nanotechnology. Vol. 10 (2019), p. 1228-1236
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyMAARISETTY, Dileep - BARAL, Saroj Sundar. Defect engineering in photocatalysis: formation, chemistry, optoelectronics, and interface studies. In JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY A. ISSN 2050-7488, 2020, vol. 8, no. 36, pp. 18560-18604.
    WANG, Xuejing - KIM, Yeonhoo - BALDWIN, Jon K. - JONES, Andrew C. - JEONG, Jeeyoon - KANG, Kyeong Tae - CHEN, Aiping - YOO, Jinkyoung. Enhanced van der Waals epitaxy of germanium by out-of-plane dipole moment induced from transferred graphene on TiN/AlN multilayers. In JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. ISSN 0021-8979, 2021, vol. 130, no. 20, 205301. Dostupné na: https://doi.org/10.1063/5.0065306.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2019
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.3762/BJNANO.10.122
    článok

    článok

    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Imaging the surface potential at the steps on the rutile TiO2(110) surface by Kelvin probe force microscopy.pdfPrístupný2.2 MB1Vydavateľská verzia
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    201920182.269Q20.769Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.