Počet záznamov: 1  

Modeling the flexoelectric effect around the tip of nano-cracks using a collocation MFEM

  1. NázovModeling the flexoelectric effect around the tip of nano-cracks using a collocation MFEM
    Autor Tian Xinpeng
    Spoluautori Xu Mengkang

    Zhou Haiyang

    Deng Qian

    Sládek Ján SAVSTAV - Ústav stavebníctva a architektúry SAV    RID    ORCID

    Sládek Vladimír SAVSTAV - Ústav stavebníctva a architektúry SAV

    Zdroj.dok. Engineering Fracture Mechanics. Vol. 289 (2023), art. no. 109452, 15 p.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaGB - Veľká Británia
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyMORENO-MATEOS, M.A. A gradient micromechanical model to explore flexoelectric copolymers via stochastic chain growth. In EUROPEAN JOURNAL OF MECHANICS A-SOLIDS. ISSN 0997-7538, NOV-DEC 2023, vol. 102, art. no. 105106. Dostupné na: https://doi.org/10.1016/j.euromechsol.2023.105106.
    JIANG, W.W. - GAO, X.W. Review of Collocation Methods and Applications in Solving Science and Engineering Problems. In CMES-COMPUTER MODELING IN ENGINEERING & SCIENCES. ISSN 1526-1492, 2024, vol. 140, no. 1, p. 41-76. Dostupné na: https://doi.org/10.32604/cmes.2024.048313.
    ZHENG, S.J. - ZHANG, N. - ZHAO, X. - CHEN, D.J. - WANG, H.T. Size-dependent mechanical analysis of porous functionally graded piezoelectric micro/nanoscale structures: a literature review. In SMART MATERIALS AND STRUCTURES. ISSN 0964-1726, SEP 1 2024, vol. 33, no. 9. Dostupné na: https://doi.org/10.1088/1361-665X/ad5809.
    XIE, J.C. - LINDER, C. Full field crack solutions in anti-plane flexoelectricity. In THEORETICAL AND APPLIED FRACTURE MECHANICS. ISSN 0167-8442, DEC 2024, vol. 134, A. Dostupné na: https://doi.org/10.1016/j.tafmec.2024.104674.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2023
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1016/j.engfracmech.2023.109452
    článok

    článok

    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Modeling the flexoelectric effect around the tip of nano-cracks using a collocation MFEM.pdfNeprístupný/archív3.2 MB1Vydavateľská verzia
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    202320225.4Q11.281Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.