Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits

Počet záznamov: 1

Názov	Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Autor	Blyzniuk M.
Spoluautori	Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
	Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	Kuzmicz W.
	Lobur M.
	Pleskacz W.
	Raik J.
	Ubar R.

Zdroj.dok.	IEEE European Test Workshop. Order No. PROO390 (2000), p. 69-74. - Los Alamitos, California : IEEE Computer Society
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	US - Spojené štáty
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Ohlasy	AHMAD, A. - AL-ABRI, D. Design of a dynamic test tool in the area of digital system testing. In International Conference on Communication, Computer and Power - icccp´09. ISSN 1813-419X. 2009, p. 9-12.
Kategória	ADC
Rok vykazovania	2000
Registrované v	WOS

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2000

Počet záznamov: 1