Počet záznamov: 1  

Influence of off-state stress on electrical properties of Al0,19Ga0,81N/GaN heterostructure field effect transistor

  1. NázovInfluence of off-state stress on electrical properties of Al0,19Ga0,81N/GaN heterostructure field effect transistor
    Autor Florovič M.
    Spoluautori Kováč Ján

    Škriniarová Jaroslava

    Donoval D.

    Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Paszkiewicz R.

    Tlaczala M.

    Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Zdroj.dok. / Pudiš D. ; Harmatha L. ; Müllerová J. ; Jamnický I. . P. 45-48 APCOM 2009 : proceedings of the 15th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, held in KRÚ Bystrá, Liptovský Ján, Slovak Republic, June 24-26, 2009. - Žilina : University of Žilina, 2009
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaSK - Slovenská republika
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rzb)
    KategóriaAED - Vedecké práce v domácich recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2009
    článok

    článok

    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2009
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.