Defect Oriented TPG for Combined IDDQ-Voltage Testing of Combinational Circuits.

Počet záznamov: 1

Názov	Defect Oriented TPG for Combined IDDQ-Voltage Testing of Combinational Circuits.
Autor	Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
Spoluautori	Bečková Jana 1966- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS

Ďalší autori	Gašpar Ján (Autor) SAVINFO - Ústav informatiky SAV
Zdroj.dok.	EDCC3 Conference : Proc. of Fast Abstracts. - Praha, Czech Republic, 1999
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	CZ - Česká republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	1999

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
0

Počet záznamov: 1