Počet záznamov: 1
Investigation of deep interface traps in very-thin oxide /Si structures prepared at low temperatures using chemical solutions
Názov Investigation of deep interface traps in very-thin oxide /Si structures prepared at low temperatures using chemical solutions Autor Rusnák Jaroslav 1958 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Spoluautori Ružinský M. Imamura K. Matsumoto T. Štefečka M. Takahashi M. Kobayashi H. Zdroj.dok. Materials Science Forum. Vol. 609 (2009), p. 123. - Zürich : Trans. Tech. Publications Jazyk dok. eng - angličtina Krajina CH - Švajčiarsko Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2009 Registrované v WOS článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2009 2008 0.298 Q2
Počet záznamov: 1