Počet záznamov: 1  

Treshold voltage instabilities in AlGaN/GaN MOS-HEMTs with ALD-grown Al2O3 gate dielectrics: relation to distribution of oxide/semiconductor interface state density

  1. NázovTreshold voltage instabilities in AlGaN/GaN MOS-HEMTs with ALD-grown Al2O3 gate dielectrics: relation to distribution of oxide/semiconductor interface state density
    Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID
    Spoluautori Válik Lukáš 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Gucmann Filip 1987 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Hashizume T.

    Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Zdroj.dok. ASDAM 2016 : the 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 1-4. - : IEEE, 2016 / Haščík Štefan 1956 ; Dzuba Jaroslav 1987 ; Vanko Gabriel 1981
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rzb)
    OhlasyDING, L. - XU, C.L. Weakly-Supervised Action Segmentation with Iterative Soft Boundary Assignment. In 2018 IEEE/CVF CONFERENCE ON COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION (CVPR). 2018, p. 6508-6516.
    KIM, H. - CHAVAN, V.D. - AZIZ, J. - KO, B. - LEE, J.S. - RHO, J. - DONGALE, T.D. - CHOI, K.K. - KIM, D.K. Effect of ALD Processes on Physical and Electrical Properties of HfO2 Dielectrics for the Surface Passivation of a CMOS Image Sensor Application. In IEEE ACCESS. ISSN 2169-3536, 2022, vol. 10, p. 68724-68730. Dostupné na: https://doi.org/10.1109/ACCESS.2022.3183593.
    KategóriaADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2016
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    DOI 10.1109/ASDAM.2016.7805881
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    N
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2016
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.