Počet záznamov: 1  

Tuning the orientation of few-layer MoS2 films using one-zone sulfurization

  1. NázovTuning the orientation of few-layer MoS2 films using one-zone sulfurization
    Autor Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID
    Spoluautori Végsö Karol 1984 SAVCEMEA ; SAVFYZIK - Centrum pre využitie pokročilých materiálov SAV

    Mrkývková Naďa 1984 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV    SCOPUS    SCOPUS    ORCID

    Hagara Jakub 1992 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV

    Hutár Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Rosová Alica 1962 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Čaplovičová M.

    Ludacka U.

    Skákalová Viera

    Majková Eva 1950 SAVCEMEA ; SAVFYZIK - Centrum pre využitie pokročilých materiálov SAV    ORCID

    Šiffalovič Peter 1975 SAVCEMEA ; SAVFYZIK - Centrum pre využitie pokročilých materiálov SAV    ORCID

    Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Zdroj.dok. RSC Advances. Vol. 9, no. 51 (2019), p. 29645-29651
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyLEE, Junghyun - HEO, Jungwoo - LIM, Hyeong Yong - SEO, Jihyung - KIM, Youngwoo - KIM, Jihyun - KIM, Ungsoo - CHOI, Yunseong - KIM, Su Hwan - YOON, Yung Jin - SHIN, Tae Joo - KANG, Joohoon - KWAK, Sang Kyu - KIM, Jin Young - PARK, Hyesung. Defect-Induced in Situ Atomic Doping in Transition Metal Dichalcogenides via Liquid-Phase Synthesis toward Efficient Electrochemical Activity. In ACS NANO. ISSN 1936-0851, 2020, vol. 14, no. 12, pp. 17114-17124.
    CICHOCKA, Magdalena O. - BOLHUIS, Maarten - VAN HEIJST, Sabrya E. - CONESA-BOJ, Sonia. Robust Sample Preparation of Large-Area In- and Out-of-Plane Cross Sections of Layered Materials with Ultramicrotomy. In ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES. ISSN 1944-8244, 2020, vol. 12, no. 13, pp. 15867-15874.
    BALASUBRAMANYAM, Shashank - BLOODGOOD, Matthew A. - VAN OMMEREN, Mark - FARAZ, Tahsin - VANDALON, Vincent - KESSELS, Wilhelmus M. M. - VERHEIJEN, Marcel A. - BOL, Ageeth A. Probing the Origin and Suppression of Vertically Oriented Nanostructures of 2D WS2 Layers. In ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES. ISSN 1944-8244, 2020, vol. 12, no. 3, pp. 3873-3885.
    NAVARRO-GAMARRA, K.E. - DE PAOLI, J.M. - PATRITO, E.M. Ellipsometric Investigation of Thick Vertically Oriented MoS2 Films Grown on Mo Foil at High Temperatures. In JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C. ISSN 1932-7447, JAN 28 2021, vol. 125, no. 3, p. 2005-2014.
    KRBAL, M. - PRIKRYL, J, - PROKOP, V. - et al. Formation of oriented layered MoS2 from amorphous thin film revealed by polarized x-ray absorption spectroscopy. In APPLIED PHYSICS LETTERS, 2022, vol. 121, no. 19, art. no. 192105.
    PANASCI, S.E. - KOOS, A. - SCHILIRO, E. - et al. Multiscale Investigation of the Structural, Electrical and Photoluminescence Properties of MoS2 Obtained by MoO3 Sulfurization. In NANOMATERIALS, 2022, vol. 12, no. 2, art. no. 182.
    ZULKIFLI, Nur 'Adnin Akmar - ZAHIR, Nor Hilmi - RIPAIN, Atiena Husna Abdullah - SAID, Suhana Mohd - ZAKARIA, Rozalina. Sulfurization engineering of single-zone CVD vertical and horizontal MoSsub2/sub on p-GaN heterostructures for self-powered UV photodetectors. In NANOSCALE ADVANCES, 2023, vol. 5, no. 3, pp. 879-892. ISSN 2516-0230. Dostupné na: https://doi.org/10.1039/d2na00756h.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2019
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1039/c9ra06770a
    článok

    článok

    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Tuning the orientation of few-layer MoS2 films using one-zone sulfurization.pdfPrístupný947.7 KB3Vydavateľská verzia
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    201920183.049Q20.807Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.