Počet záznamov: 1
High energy ion detection using 4H-SiC semiconductor detector
Názov High energy ion detection using 4H-SiC semiconductor detector Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sedlačková K. Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Skuratov V.A. Nečas V. Zdroj.dok. APCOM 2017 : proceedings of the 23th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, June 12-14, 2017, Štrbské Pleso, Slovak Republic. P. 154-157. - Bratislava : SPEKTRUM STU, 2017 / Vajda J. ; Jamnický I. Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2017 článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2017
Počet záznamov: 1