Počet záznamov: 1
Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering
Názov Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering Autor Jurečka Stanislav Spoluautori Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ORCID Spoluautori Imamura Kentaro Matsumoto Taketoshi Kobayashi Hikaru Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 70, no. 7S (2019), p. 58-64 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina SK - Slovenská republika Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS DOI 10.2478/jee-2019-0042 článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering.pdf Prístupný 1.3 MB 3 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore N rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2019 2018 0.636 Q4 0.200 Q3
Počet záznamov: 1