Influence of base material thickness on spectrometry of semiconductor detectors based on semi-insulating GaAs

Počet záznamov: 1

Názov	Influence of base material thickness on spectrometry of semiconductor detectors based on semi-insulating GaAs
Autor	Šagátová A.
Spoluautori	Kurucová N.
	Kotorová S.
	Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID

Zdroj.dok.	EPJ Web of Conferences : ANIMMA 2023. Vol. 288 (2023), no. 10013
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	FR - Francúzsko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok z podujatia
Rok vykazovania	2023
DOI	10.1051/epjconf/202328810013

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Influence of base material thickness on.pdf	Prístupný	821.1 KB	0	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2023

Počet záznamov: 1