Počet záznamov: 1
Experimental evidence for complementary spatial sensitivities of capaticance
Názov Experimental evidence for complementary spatial sensitivities of capaticance and charge deep-level transient spectroscopies Autor Thurzo Ilja SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Beyer R. Zahn D.R.T. Zdroj.dok. Semiconductor Science and Technology. Vol. 15, no. 4 (2000), p. 378-385 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Ohlasy ROTHENBERGER, J.B. A Q-DLTS investigation of aluminium nitride surface termination. In SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2012, vol. 15, no. 4, pp. 378-385. Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2000 článok
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2000 1999 1.220
Počet záznamov: 1