Defect oriented fault coverage of 100% stuck-at fault test set

Počet záznamov: 1

Názov	Defect oriented fault coverage of 100% stuck-at fault test set
Autor	Blyzniuk M.
Spoluautori	Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
	Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	Kuzmicz W.
	Lobur M.
	Pleskacz W.
	Raik J.
	Ubar R.

Zdroj.dok.	Mixed design of integrated circuits and systems. P. 511-516
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	PL - Poľsko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2000

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
0

Počet záznamov: 1