Počet záznamov: 1
Electrical field mapping in InGaPHEMTs and GaAs tetrahertz emitters using backside infrared OBIC technique
Názov Electrical field mapping in InGaPHEMTs and GaAs tetrahertz emitters using backside infrared OBIC technique Autor Pogany D. SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Darmo Juraj Litzenberger S. Bychikhin K. Unterrainer Z. Mozolová Želmíra SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gornik E. Zdroj.dok. Microelectronic Reliability. Vol. 42 (2002), p. 1673-1677 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADC Rok vykazovania 2002 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2002
Počet záznamov: 1