Determination of optical constants of thin films on substrates by reflectance and transmittance measurements

Počet záznamov: 1

Názov	Determination of optical constants of thin films on substrates by reflectance and transmittance measurements
Autor	1954 Ožvold Milan SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
Spoluautori	1940 Mrafko Peter SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
	Gašparík V.

Zdroj.dok.	Proceedings of SPIE 5024 . P. 160-164. - Bellingham : SPIE, 2003 / Svechnikov S.V. ; Valakh M.Y.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	US - Spojené štáty
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Ohlasy	LIAO, N.M. - LI, W. - JIANG, Y.D. - KUANG, Y.J. - QI, K.C. - LI, S.B. - WU, Z.M. Thickness and optical constant determination of hydrogenated amorphous silicon thin film from transmittance spectra of ellipsometer. In ACTA PHYSICA SINICA. ISSN 1000-3290, MAR 2008, vol. 57, no. 3, p. 1542-1547.
Kategória	AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2003

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
0

Počet záznamov: 1