Počet záznamov: 1
Determination of residual stress in thin film by GIXRD
Názov Determination of residual stress in thin film by GIXRD Autor Novák P. Spoluautori Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Búc D. Kováč Jaroslav Zdroj.dok. / Vajda J. ; Jamnický I. Proceedings of the 20th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter : APCOM 2014. P. 300-303. - Bratislava : FEI STU, 2014 ; International Conference on Applied Physics of Condensed Matter APCOM 2014 Jazyk dok. slo - slovenčina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2014 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2014
Počet záznamov: 1