Scaling analyses on the critical current density in MgB2/SiC/Si thin film processed at higher temperature

Počet záznamov: 1

Názov	Scaling analyses on the critical current density in MgB2/SiC/Si thin film processed at higher temperature
Autor	Nishida A.
Spoluautori	Taka C.
	Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID

Zdroj.dok.	IOP Conference Series: Materials Science and Engineering : ICEC-ICMC 2018. Vol. 502 (2019), no. 012184
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2019
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
DOI	10.1088/1757-899X/502/1/012184

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Scaling analyses on the critical current density in MgB2SiCSi thin film processed at higher temperature.pdf	Prístupný	380.8 KB	1	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2019	2018			0.192

Počet záznamov: 1