Výsledky vyhľadávania
Názov Layered WS2 thin films prepared by sulfurization of sputtered W films Autor Hotový I. Spoluautori Spiess L. Mikolášek M. Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Romanus H. Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Búc D. Řeháček V. Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 544 (2021), no. 148719 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.1016/j.apsusc.2020.148719 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Layered WS2 thin films prepared by sulfurization of sputtered W films.pdf Neprístupný/archív 3.6 MB 2 Vydavateľská verzia 
článok
Názov X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films Autor Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Novák P. Búc D. Harmatha L. Murín J. Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 395 (2017), p. 16-23 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2017 DOI 10.1016/j.apsusc.2016.06.060 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence X ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films.pdf Neprístupný/archív 1.7 MB 0 Vydavateľská verzia článok
Názov Study of ZnO nanostructures grown by a hydrothermal process on GaP/ZnO nanowires Autor Kováč Jaroslav Jr. Spoluautori Hronec P. Búc D. Škriniarová Jaroslava Šutta P. Kováč Jaroslav Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 337, (2015), p. 254-258 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2015 DOI 10.1016/j.apsusc.2014.05.229 článok
Názov Measuring of residual stresses in strongly textured thin films Autor Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Novák P. Búc D. Zdroj.dok. Materials Structure : in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Vol. 22, (2015), p. 171-172 Kategória ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2015 článok
Názov Residual stress in RF magnetron deposited ZnO/GaP thin films and nanowires Autor Búc D. Spoluautori Kováč Jaroslav Kutiš V. Murín J. Čaplovičová M. Škriniarová Jaroslava Novák P. Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. / Onate E. ; Oliver X. ; Huerta A. Proceedings of the jointly organized 11th World Congress on Computational Mechanics (WCCM XI), 5th European Conference on Computational Mechanics (ECCM V), 6th European Conference on Computational Fluid Dynamics (ECFD VI). P. 2846-2856. - Barcelona : CIMNE, 2014 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2014 článok
Názov Radiation hardness of 4H-SiC structures Autor Kósa A. Spoluautori Benkovská J. Stuchlíková Ľ. Búc D. Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Harmatha L. Zdroj.dok. ASDAM 2014 : The 10th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 41-44. - : IEEE, 2014 / Breza Juraj ; Donoval Daniel ; Vavrinský E. Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2014 článok
Názov Optical properties of ZnO thin films grown on GaP substrate by different growth techniques Autor Kováč Jaroslav Jr. Spoluautori Bruncko J. Búc D. Novotný I. Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováč Jaroslav Zdroj.dok. / Pudiš D. ; Šušlík Ľ. ; Kováč J., jr. ; Flickyngerová S. ; Lettrichová I. Proceedings of ADEPT : 2nd International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies. P. 172-175. - Žilina : University of Žilina, 2014 ; International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies ADEPT 2014 Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2014 článok
Názov Determination of residual stress in thin film by GIXRD Autor Novák P. Spoluautori Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Búc D. Kováč Jaroslav Zdroj.dok. / Vajda J. ; Jamnický I. Proceedings of the 20th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter : APCOM 2014. P. 300-303. - Bratislava : FEI STU, 2014 ; International Conference on Applied Physics of Condensed Matter APCOM 2014 Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2014 článok
Názov Deposition of ZnO:Al thin films on tilted GaP-NWs by RF reactive magnetron sputtering Autor Škriniarová Jaroslava Spoluautori Búc D. Kováč Jaroslav Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. / Pudiš D. ; Lettrichová I. ; Šušlik Ľ. ; Kováč Jaroslav Jr. ; Vincze A. Proceedings of ADEPT : 1st International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies. P. 282-286. - Žilina : University of Žilina, 2013 Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2013 článok
Názov Properties of GaP/ZnO heterostructures for photovoltaics Autor Kováč Jaroslav Spoluautori Čaplovičová M. Búc D. Brath T. Kováč Jaroslav Jr. Eliáš Peter 1964 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. / Vajda J. ; Jamnický I. APCOM 2012 : proceedings on Applied Physics of Condensed Matter of the 18th International Conference. P. 263-266. - Bratislava : Slovenská technická univerzita v Bratislave, 2012 ; International Conference on Applied Physics of Condensed Matter APCOM 2012 Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2012 článok