Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 5  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^sav_un_auth 0019259^"
  1. NázovAnnealing of thin Zr films on Si1-xGex 90x1):X-ray diffraction and Raman studies
    Autor Chaix-Pluchery O.
    Spoluautori Chenevier B.
    Aubury-Fortuna V.
    Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Zdroj.dok. Journal of Physics and Chemistry of Solids. Vol. 63 (2002), p. 1889-1900
    KategóriaADC
    Rok vykazovania2002
    článok

    článok

  2. NázovTEM analysis of an additional metal-rich component at the C49-C54 transformation in Ti/Si thin films capped with TiN
    Autor Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Chenevier B.
    Chaix-Pluchery O.
    Madar R.
    La Via F.
    Zdroj.dok. Thin Solid Films. Vol. 408 (2002), p. 123-127
    KategóriaADC
    Rok vykazovania2002
    článok

    článok

  3. NázovSolid-phase epitaxial growth of bulk SiC single crystals
    Autor Pernot E.
    Spoluautori Anikin M.
    Pons M.
    Chaix-Pluchery O.
    Baillet F.
    Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Madar R.
    Zdroj.dok. Materials Science Forum. Vol. 389 (2002), p. 143-146
    KategóriaADC
    Rok vykazovania2002
    článok

    článok

  4. NázovOrigin of the C49-C54 volume anomaly in TiSi2 thin films
    Autor Chenevier B.
    Spoluautori Chaix-Pluchery O.
    Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Madar R.
    La Via F.
    Zdroj.dok. Microelectronic Engineering. Vol. 64 (2002), p. 181-187
    KategóriaADC
    Rok vykazovania2002
    článok

    článok

  5. NázovStructural investigations of the C49-C54 transformation in TiSi2 thin films
    Autor Chenevier B.
    Spoluautori Chaix-Pluchery O.
    Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Madar R.
    La Via F.
    Zdroj.dok. Microelectronic Engineering. Vol. 55, no. 1-4 (2001), p. 115-122
    KategóriaADC
    Rok vykazovania2001
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.