Výsledky vyhľadávania
Názov Annealing of thin Zr films on Si1-xGex 90x1):X-ray diffraction and Raman studies Autor Chaix-Pluchery O. Spoluautori Chenevier B. Aubury-Fortuna V. Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Zdroj.dok. Journal of Physics and Chemistry of Solids. Vol. 63 (2002), p. 1889-1900 Kategória ADC Rok vykazovania 2002 Názov TEM analysis of an additional metal-rich component at the C49-C54 transformation in Ti/Si thin films capped with TiN Autor Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Chenevier B. Chaix-Pluchery O. Madar R. La Via F. Zdroj.dok. Thin Solid Films. Vol. 408 (2002), p. 123-127 Kategória ADC Rok vykazovania 2002 Názov Solid-phase epitaxial growth of bulk SiC single crystals Autor Pernot E. Spoluautori Anikin M. Pons M. Chaix-Pluchery O. Baillet F. Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Madar R. Zdroj.dok. Materials Science Forum. Vol. 389 (2002), p. 143-146 Kategória ADC Rok vykazovania 2002 Názov Origin of the C49-C54 volume anomaly in TiSi2 thin films Autor Chenevier B. Spoluautori Chaix-Pluchery O. Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Madar R. La Via F. Zdroj.dok. Microelectronic Engineering. Vol. 64 (2002), p. 181-187 Kategória ADC Rok vykazovania 2002 Názov Structural investigations of the C49-C54 transformation in TiSi2 thin films Autor Chenevier B. Spoluautori Chaix-Pluchery O. Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Madar R. La Via F. Zdroj.dok. Microelectronic Engineering. Vol. 55, no. 1-4 (2001), p. 115-122 Kategória ADC Rok vykazovania 2001