Výsledky vyhľadávania
Názov Dislocation dynamics and slip band formation in silicon: In-situ study by X-ray diffraction imaging Autor Danilewsky A. Spoluautori Wittge J. Cröll A. Allen David McNally P. Vagovič Patrik SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV dos Santos Rolo T. Li Z.J. Baumbach T. Gorostegui-Colinas E. Garagorri J. Elizelde M.R. Fossati M.C. Bowen D.K. Tanner B.K. Zdroj.dok. Journal of Crystal Growth. Vol. 318, (2011), p. 1157-1163 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2011 DOI 10.1016/j.jcrysgro.2010.10.199 
článok
Názov Dislocation generation related to micro-craks in Si wafers: High temperature in situ study with white beam X-ray topography Autor Danilewsky A. Spoluautori Wittge J. Hess A. Cröll A. Allen David McNally P. Vagovič Patrik SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Cecilia A. Li Z.J. Gorostegui-Colinas E. Elizelde M.R. Zdroj.dok. . Vol. 268, (2010), p. 399-402 Nuclear Instruments and Methods in Physical Research B Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2010 článok