Výsledky vyhľadávania
Názov Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO Autor Schneider Andrea Spoluautori Diener K.-H. Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Ivask E. Ubar R. Pleskacz W. Kuzmicz W. Zdroj.dok. BEC 2002 : Proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference. (2002), S. 303-305. - Tallinn Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2002 
kniha
Názov Internet-based collaborative test generation with MOSCITO Autor Schneider Andrea Spoluautori Ivask E. Mikloš P. Raik J. Diener K.-H. Ubar R. Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Akcia 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition : March 4-8, 2002 : Paris, France Zdroj.dok. 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition. Proceedings. P. 221-226. - Los Alamitos, California : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., 2002 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Rok vykazovania 2002 DOI 10.1109/DATE.2002.998273 
článok
Názov Virtual laboratory for research in dependable microelectronics Autor Diener K.-H. Spoluautori Elst G. Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Peng Z. Ubar R. Akcia BEC 2000 - Baltic electronics Conference. The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology : 8.-11.10 : Tallinn, Estonia Zdroj.dok. BEC 2000 Baltic Electronics Conference : Conference Proceedings. P. 217-220. - Tallin, Estonia : Tallinn Technical University, 2000 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2000 článok