Výsledky vyhľadávania
Názov High-resolution alpha-particle detector based on Schottky barrier 4H-SiC detector operated at elevated temperatures up to 500 °C Autor Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 635 (2023), art. no. 157708 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2023 DOI 10.1016/j.apsusc.2023.157708 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence High-resolution alpha-particle detector based on Schottky barrier 4H-SiC.pdf Neprístupný/archív 3.3 MB 2 Vydavateľská verzia 
článok
Názov GaAs radiation-degraded detectors: gamma spectrometry at lowered temperatures Autor Šagátová A. Spoluautori Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Novák A. Kotorová S. Riabukhin O. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 17 (2022), no. C12018 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2022 DOI 10.1088/1748-0221/17/12/C12018 článok
Názov High-quality detectors based on 4H-SiC operated at different temperatures Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Šagátová A. Osvald Jozef 1953 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. ASDAM 2022 : Conference Proceedings. P. 203-206. - : IEEE, 2022 / Marek Juraj ; Donoval D. ; Vavrinský E. ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia Rok vykazovania 2022 článok
Názov From a single silicon carbide detector to pixelated structure for radiation imaging camera Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Šagátová A. Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Novák A. Osvald Jozef 1953 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Polansky Š. Jakubek J. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 17 (2022), no. C12005 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2022 DOI 10.1088/1748-0221/17/12/C12005 článok
Názov Testing of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Ferrari C. Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 16 (2021), no. P06015 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.1088/1748-0221/16/06/P06015 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf Prístupný 4.2 MB 1 Autorský preprint Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf Neprístupný/archív 925.3 KB 1 Vydavateľská verzia článok
Názov Aging of electron-written YBCO superconducting thin film structures Autor Talacko Marcel SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Španková Marianna 1969 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Štrbík Vladimír 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Mičušík Matej 1977- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV Camerlingo C. Jung G. Zdroj.dok. Journal of Materials Science. Materials in Electronics. Vol. 32 (2021), p. 28687–28694 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.1007/s10854-021-07243-0 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Aging of electron-written YBCO superconducting thin.pdf Neprístupný/archív 1.1 MB 1 Vydavateľská verzia článok
Názov PtSe2 few-layer films grown on NbN superconducting substrate Autor Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Hrdá Jana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Volkov S. Végso Karol 1984 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Shaji Ashin 1991 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Vojteková Tatiana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pribusová Slušná Lenka SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Roch T. Gregor M. Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. Proceedings of ADEPT 2021 : 9th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies, Podbanské, High Tatras, Slovakia. P. 9-12. - Žilina : Univ. Zilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2021 / Jandura D. ; Maniaková P. ; Lettrichová I. ; Kováč Jaroslav Jr. Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2021 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence PtSe2 few-layer films grown on NbN superconducting substrate.pdf Prístupný 619.8 KB 2 Vydavateľská verzia článok
Názov Characterization of thickness homogeneity of Si crystal membranes produced by single point diamond turning Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mazzolari A. Romagnoni M. Ferrari C. Zdroj.dok. Progress in applied surface, interface and thin film science – solar renewable energy news 2021. SURFINT – SREN VII : extended abstract book. P. 72-73. - Bratislava : Comenius Univ., 2021 / Brunner Róbert 1954 Kategória AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií Rok vykazovania 2021 článok
Názov Growth of PtSe2 few-layer films on NbN superconducting substrate Autor Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Hrdá Jana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Volkov S. Végso Karol 1984 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Shaji Ashin 1991 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Vojteková Tatiana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pribusová Slušná Lenka SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Roch T. Gregor Maroš Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. Applied Physics Letters. Vol. 119, no. 1 (2021), 013101 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.1063/5.0053309 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Growth of PtSe2 few-layer films on NbN superconducting.pdf Prístupný 6.2 MB 4 Vydavateľská verzia Growth of PtSe2 few-layer films on NbN superconducting.pdf Neprístupný/archív 6.2 MB 0 Vydavateľská verzia článok
Názov Study of the contrast resolution of Timepix detector with a semi-insulating GaAs sensor Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Šagátová A. Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Žemlička J. Jakubek J. Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 15 (2020), no. C04004 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 DOI 10.1088/1748-0221/15/04/C04004 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Study of the contrast resolution of Timepix detector.pdf Neprístupný/archív 1.5 MB 1 Vydavateľská verzia článok