Výsledky vyhľadávania
Názov Atomic Force Microscopy : understanding basic modes and advanced applications Autor Haugstad Greg Vyd.údaje Hoboken : John Wiley and Sons, Inc. , 2012. - 464 s. Počet ex. 2, z toho voľných 0, prezenčne 2 Druh dok. monografie 
kniha