Výsledky vyhľadávania
Váš dotaz:
Vydavateľ = "IEEE Computer Society Test Technology Technical Council"
Názov MBIST for LEON3 processor core cache Autor Kincel Andrej SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Sekanina Lukáš ; Fey Görschwin ; Růžička Richard ; Raik J. ; Aunet Snorre 2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems : DDECS. P. 287-288. - Brno : IEEE Computer Society Test Technology Technical Council, 2013 ; 2013 IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2013 DOI 10.1109/DDECS.2013.6549836 
článok
Názov 2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems : DDECS Ďalší autori Sekanina Lukáš Fey Görschwin Růžička Richard Raik J. Aunet Snorre Akcia 2013 IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems. DDECS ( 16th : April 8-10, 2013 : Karlovy Vary ) Vyd.údaje Brno : IEEE Computer Society Test Technology Technical Council , 2013. - 300 p. Kategória FAI - Zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...) Odkazy (1) Publikačná činnosť SAV - články 
kniha
Názov IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Súbež.n. Fifth International Workshop IEEE DDECS 2002 Autor Straube Bernd Spoluautori Marinissen Erik Jan Kotásek Ondřej Hlavička Jan Růžička Richard Akcia April 17-19, 2002 : Brno Vyd.údaje IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council kniha