Výsledky vyhľadávania
Názov Optical Characteristic Measurement Device : Patent WO 2012/121323 A1. (Assignee: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo, Japan) Autor Kawate E. Spoluautori Hain Miroslav 1960 SAVMER - Ústav merania SAV Vyd.údaje Japan Patent Office , September 13, 2012 Kategória AGJ - Patentové prihlášky, prihlášky úžitkových vzorov, dizajnov, ochranných známok,... Rok vykazovania 2012 
kniha