Výsledky vyhľadávania
Názov Hot-electron-related degradation in InAlN/GaN high-electron-mobility transistors Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Killat N. Palankovski V. SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Čičo Karol SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Carlin J.-F. Grandjean N. Kuball M. Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. IEEE Transactions on Electron Devices. Vol. 61, (2014), p. 2793-2801 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2014 DOI 10.1109/TED.2014.2332235 Názov Non-arrhenius degradation of AlGaN/GaN HEMTs grown on bulk GaN substrates Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Killat N. Moereke J. Paskova T. Evans Kevin R. Leach J. Li X. Ozgur U. Morkoc H. Chabak K.D. Crespo A. Gillespie J.K. Fitch R. Kossler M. Walker D.E. Trejo M. Via G.D. Blevins J.D. Kuball M. Zdroj.dok. IEEE Electron Devices Letters. Vol. 33, (2012), p. 1126-1128 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2012 DOI 10.1109/LED.2012.2199278 Názov Early stage degradation of InAlN/GaN HEMTs during electrical stress Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Čičo Karol SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Fedor Ján 1976 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Carlin J.-F. Grandjean N. Killat N. Kuball M. Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ASDAM 2012 : conference proceedings. P. 7-10. - Piscataway : IEEE, 2012 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems ASDAM 2012 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2012