Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 93  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^sav_un_auth 0000213^"
  1. NázovDevelopment towards high-resolution kHz-speed rotation-free volumetric imaging
    Autor Asimakopoulou E.M.
    Spoluautori Bellucci V.
    Birnsteinova S.
    Yao Z.H.
    Zhang Yu
    Petrov Ivo
    Deiter C.
    Mazzolari A.
    Romagnoni M.
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kuglerová Zuzana 1955-
    Juha Libor
    Lukić B.
    Rack A.
    Samoylova L.
    Garcia-Moreno F.
    Hall S.
    Neu T.
    Liang X.
    Vagovič Patrik
    Villanueva-Perez P.
    Akcia VEGA 2/0041/21. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2021 – 2023
    Zdroj.dok. Optics Express. Vol. 32, no. 3 (2024), pp. 4413-4426
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2024
    DOI 10.1364/OE.510800
    článok

    článok

  2. NázovTesting of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector
    Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Ferrari C.
    Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 16 (2021), no. P06015
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2021
    DOI 10.1088/1748-0221/16/06/P06015
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdfPrístupný4.2 MB1Autorský preprint
    Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdfNeprístupný/archív925.3 KB1Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  3. NázovCharacterization of thickness homogeneity of Si crystal membranes produced by single point diamond turning
    Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Mazzolari A.
    Romagnoni M.
    Ferrari C.
    Zdroj.dok. Progress in applied surface, interface and thin film science – solar renewable energy news 2021. SURFINT – SREN VII : extended abstract book. P. 72-73. - Bratislava : Comenius Univ., 2021 / Brunner Róbert 1954
    KategóriaAFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    Rok vykazovania2021
    článok

    článok

  4. NázovA high-throughput assembly of beam-shaping channel-cut monochromators for laboratory high-resolution X-ray diffraction and small-angle X-ray scattering experiments
    Autor Nádaždy Peter SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Hagara Jakub SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Mikulik P.
    Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. Vol. 54 (2021), p. 730-738
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2021
    DOI 10.1107/S1600576721002338
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    A high-throughput assembly of beam-shaping channel-cut monochromators for laboratory high resolution X-ray diffraction and small-angle X-ray scattering experiments_2021.pdfPrístupný z IP adries SAV1.5 MB0Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  5. NázovStudy of the contrast resolution of Timepix detector with a semi-insulating GaAs sensor
    Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Šagátová A.
    Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Žemlička J.
    Jakubek J.
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Nečas V.
    Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020
    APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023
    VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023
    APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022
    Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 15 (2020), no. C04004
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2020
    DOI 10.1088/1748-0221/15/04/C04004
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Study of the contrast resolution of Timepix detector.pdfNeprístupný/archív1.5 MB1Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  6. NázovStudy of subsurface damage in Ge optics machined by SPDT
    Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Dobrovodský Jozef
    Noga Pavol
    Zdroj.dok. ASDAM 2020 : 13th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 152-156. - : IEEE, 2020 / Izsák Tibor ; Vanko Gabriel 1981
    KategóriaADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2020
    DOI 10.1109/ASDAM50306.2020.9393864
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Study of subsurface damage in Ge optics machined by SPDT.pdfNeprístupný/archív655.7 KB2Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  7. NázovCompressive strain formation in surface-damaged crystals
    Autor Ferrari C.
    Spoluautori Beretta S.
    Rotunno E.
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020
    Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. Vol. 53 (2020), part 3, p. 629-634
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2020
    DOI 10.1107/S1600576720003702
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Compressive strain formation in surface damaged crystals_sub.pdfPrístupný1.2 MB0Autorský preprint
    článok

    článok

  8. NázovCharacterization of the chips generated by the nanomachining of germanium for X-ray crystal optics
    Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Kotlár M.
    Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Hagara Jakub SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Kečkéš Jozef
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020
    Zdroj.dok. International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Vol. 102, no. 9-12 (2019), p. 2757-2767
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2019
    DOI 10.1007/s00170-019-03392-z
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Characterization of the chips generated by the nanomachining of germanium for X-ray crystal optics.pdfNeprístupný/archív3 MB0Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  9. NázovExploiting the potential of beam-compressing channel-cut monochromators for laboratory high-resolution small-angle X-ray scattering experiments
    Autor Nádaždy Peter SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Hagara Jakub SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Mikulík P.
    Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020
    Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. Vol. 52 (2019), p. 498-506
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2019
    DOI 10.1107/S1600576719003674
    článok

    článok

  10. NázovStudy of surface quality and subsurface damage of germanium optics produced by single point diamond nanomachining
    Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Kečkéš Jozef
    Mikulík P.
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Thi T.N.T.
    Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020
    Zdroj.dok. Proceedings of the SPIE : EUV and X-ray Optics: Synergy between Laboratory and Space VI. Vol. 11032 (2019), no. 110320E
    KategóriaADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2019
    DOI 10.1117/12.2520970
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.