Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 7  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^sav_un_auth 0001880^"
  1. NázovTwo-dimensional x-ray magnification based on a monolithic beam conditioner
    Autor Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Mikulik P.
    Ferrari C.
    Hrdý J.
    Baumbach T.
    Freund A.
    Kuběna A.
    Zdroj.dok. Journal of Physics D: Applied Physics. Vol. 36 (2003), p. A65-A68
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2003
    článok

    článok

  2. NázovCoplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings
    Autor Mikulik P.
    Spoluautori Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Baumbach T.
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Ortega L.
    Tucoulou R.
    Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Zdroj.dok. Journal of Physics D: Applied Physics. Vol. 34, no. 10A (2001), p. A188-A192. - Bristol : Institute of Physics Publishing
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2001
    článok

    článok

  3. NázovMultilayer gratings for X-UV optics
    Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Mikulik P.
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Brunel M.
    Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Zdroj.dok. Acta Physica Slovaca. Vol. 50 (2000), p. 427-438
    KategóriaADD
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2000
    článok

    článok

  4. NázovStructural characterization of lamellar multilayer gratings by X-ray reflectivity and scanning electron
    Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Mikulik P.
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Brunel M.
    Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Zdroj.dok. Journal of Physics D. Vol. 32, no. 10A (1999), p. A220-A223
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania1999
    článok

    článok

  5. NázovStructural characterization of a lamellar W/Si multilayer grating.
    Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Mikulik P.
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Brunel M.
    Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Vol. 85, no. 2 (1999), p. 1225-1227
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania1999
    DOI 10.1063/1.369346
    článok

    článok

  6. NázovW/Si multilayer gratings for X-UV optics
    Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Mikulik P.
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Brunel M.
    Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Zdroj.dok. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Vol. 6, no. 1 (1999), p. 11-14
    KategóriaADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania1999
    URLURL link
    článok

    článok

  7. NázovCoplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings
    Autor Mikulik P.
    Spoluautori Jergel Matej 1954-
    Baumbach T.
    Brunel M.
    Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Akcia 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : September 1999 : Noordwijkerhout, Netherlands
    Zdroj.dok. 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : Proceedings. - Noordwijkerhout, Netherlands, 1999
    KategóriaAFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Rok vykazovania1999
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.