Výsledky vyhľadávania
Názov Two-dimensional x-ray magnification based on a monolithic beam conditioner Autor Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Mikulik P. Ferrari C. Hrdý J. Baumbach T. Freund A. Kuběna A. Zdroj.dok. Journal of Physics D: Applied Physics. Vol. 36 (2003), p. A65-A68 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2003 Názov Coplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings Autor Mikulik P. Spoluautori Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Baumbach T. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Ortega L. Tucoulou R. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. Journal of Physics D: Applied Physics. Vol. 34, no. 10A (2001), p. A188-A192. - Bristol : Institute of Physics Publishing Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2001 Názov Multilayer gratings for X-UV optics Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. Acta Physica Slovaca. Vol. 50 (2000), p. 427-438 Kategória ADD Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2000 Názov Structural characterization of lamellar multilayer gratings by X-ray reflectivity and scanning electron Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. Journal of Physics D. Vol. 32, no. 10A (1999), p. A220-A223 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 1999 Názov Structural characterization of a lamellar W/Si multilayer grating. Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Vol. 85, no. 2 (1999), p. 1225-1227 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 1999 DOI 10.1063/1.369346 Názov W/Si multilayer gratings for X-UV optics Autor Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Mikulik P. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Brunel M. Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Vol. 6, no. 1 (1999), p. 11-14 Kategória ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 1999 URL URL link Názov Coplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings Autor Mikulik P. Spoluautori Jergel Matej 1954- Baumbach T. Brunel M. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Akcia 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : September 1999 : Noordwijkerhout, Netherlands Zdroj.dok. 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : Proceedings. - Noordwijkerhout, Netherlands, 1999 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 1999