Výsledky vyhľadávania
Názov Effects of gate shaping and consequent process changes on AlGaN/GaN HEMT reliability Autor Moereke J. Spoluautori Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Uren M.J. Pei Y. Mishra Umesh K. Kuball M. Zdroj.dok. Physica status solidi A. Applications and materials science. Vol. 209, (2013), p. 2646-2652 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2013 DOI 10.1002/pssa.201228395 
článok
Názov Non-arrhenius degradation of AlGaN/GaN HEMTs grown on bulk GaN substrates Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Killat N. Moereke J. Paskova T. Evans Kevin R. Leach J. Li X. Ozgur U. Morkoc H. Chabak K.D. Crespo A. Gillespie J.K. Fitch R. Kossler M. Walker D.E. Trejo M. Via G.D. Blevins J.D. Kuball M. Zdroj.dok. IEEE Electron Devices Letters. Vol. 33, (2012), p. 1126-1128 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2012 DOI 10.1109/LED.2012.2199278 článok