Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 2  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^sav_un_auth 0177803^"
  1. TitleEffects of gate shaping and consequent process changes on AlGaN/GaN HEMT reliability
    Author Moereke J.
    Co-authors Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Uren M.J.
    Pei Y.
    Mishra Umesh K.
    Kuball M.
    Source document Physica status solidi A. Applications and materials science. Vol. 209, (2013), p. 2646-2652
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2013
    DOI 10.1002/pssa.201228395
    článok

    článok

  2. TitleNon-arrhenius degradation of AlGaN/GaN HEMTs grown on bulk GaN substrates
    Author Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Killat N.
    Moereke J.
    Paskova T.
    Evans Kevin R.
    Leach J.
    Li X.
    Ozgur U.
    Morkoc H.
    Chabak K.D.
    Crespo A.
    Gillespie J.K.
    Fitch R.
    Kossler M.
    Walker D.E.
    Trejo M.
    Via G.D.
    Blevins J.D.
    Kuball M.
    Source document IEEE Electron Devices Letters. Vol. 33, (2012), p. 1126-1128
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2012
    DOI 10.1109/LED.2012.2199278
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.