Výsledky vyhľadávania
Názov Picometer-precision few-tilt ptychotomography of 2D materials Autor Hofer C. Spoluautori Mustonen K. Skákalová Viera SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pennycook T.J. Zdroj.dok. . Vol. 10 (2023), no. 035029 2D Materials Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2023 DOI 10.1088/2053-1583/acdd80 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Picometer-precision few-tilt ptychotomography of 2D materials.pdf Prístupný 3 MB 0 Vydavateľská verzia 
článok
Názov Synthesis and properties of 2D metal iodides/graphene heterostructures Autor Skákalová Viera SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Mustonen K. Kotrusz Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Bui T.A. Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hutár Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Precner Marián 1987 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. 5th International Conference on Functional Nanomaterials and Nanodevices 2023 : NANOMAT2023 scheduled from August 28 – 30, 2023, Warsaw : abstract booklet. P. 72. - Sofia : Publ. European Nanosci and Nanotechnol. Asssociat., 2023 / Emin S. ; Eder D. ; Zak A. Kategória AFE - Abstrakty pozvaných príspevkov zo zahraničných konferencií Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu abstrakt z podujatia Rok vykazovania 2023 článok
Názov Toward exotic layered materials: 2D cuprous iodide Autor Mustonen K. Spoluautori Hofer C. Kotrusz Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Markevich A. Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Mangler C. Susi T. Pennycook T.J. Hricovíni K. Richter C. Meyer J.C. Kotakoski J. Skákalová Viera SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. Advanced Materials. Vol. 34 (2022), no. 2106922 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2022 DOI 10.1002/adma.202106922 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Toward Exotic Layered Materials.pdf Prístupný 2.3 MB 8 Vydavateľská verzia článok
Názov Few-tilt electron ptychotomography: a new method to determine the 3D structure of 2D materials with high-precision and low-dose Autor Hofer C. Spoluautori Mustonen K. Skákalová Viera SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pennycook T.J. Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Vol. 28, no. S1 (2022), p. 2526-2527 Kategória ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2022 DOI 10.1017/S1431927622009655 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Few-tilt Electron Ptychotomography.pdf Neprístupný/archív 463.1 KB 9 Vydavateľská verzia článok