Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 11  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^sav_un_auth 0148119^"
  1. NázovEffect of oxygen concentration and metal electrode on the resistive switching in MIM capacitors with transition metal oxides
    Autor Spassov D.
    Spoluautori Paskaleva A.
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Ivanov T.Z.
    Zdroj.dok. Journal of Physics: Conference Series. Vol. 794 (2017), art. no. 012016
    KategóriaADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2017
    DOI 10.1088/1742-6596/794/1/012016
    URLURL link
    článok

    článok

  2. NázovThe influence of technology and switching parameters on resistive switching behavious of Pt/HfO2/TiN MIM structures
    Autor Paskaleva A.
    Spoluautori Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jančovič Peter 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spassov D.
    Zdroj.dok. Facta universitatis : series: Electronics and Energetics. Vol. 27, (2014), p. 621-630
    KategóriaADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2014
    článok

    článok

  3. NázovNanoscale characterization of TiO2 films grown by atomic layer deposition on RuO2 electrodes
    Autor Murakami K.
    Spoluautori Rommel M.
    Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Rosová Alica 1962 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Rammula R.
    Kasikov A.
    Han J.H.
    Lee W.
    Song S.J.
    Paskaleva A.
    Bauer A.J.
    Frey L.
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Aarik J.
    Hwang C.S.
    Zdroj.dok. ACS Applied Materials & Interfaces. Vol. 6, (2014), p. 2486
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2014
    DOI 10.1021/am4049139
    článok

    článok

  4. NázovResistive switching effects in Pt/HfO2/TiN MIM structures and their dependence on bottom electrode interface engineering
    Autor Paskaleva A.
    Spoluautori Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Jančovič Peter 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zdroj.dok. Proceedings of the 29th International Confefence on Microelectronics : MIEL 2014. P. 285-288. - : IEEE, 2014
    KategóriaAFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Rok vykazovania2014
    článok

    článok

  5. NázovResistive switching in TiO2-based metal-insulator-metal structures with Al2O3 barrier layer at the metal/dielectric interface
    Autor Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Paskaleva A.
    Jančovič Peter 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dérer Ján 1948 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Fedor Ján 1976 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Rosová Alica 1962 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zdroj.dok. Thin Solid Films. Vol. 563, (2014), p. 10-14
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2014
    DOI 10.1016/j.tsf.2014.02.030
    článok

    článok

  6. NázovAtomic layer deposition of thin oxide films for resistive switching
    Autor Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Jančovič Peter 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dérer Ján 1948 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Paskaleva A.
    Bertaud T.
    Schroeder T.
    Zdroj.dok. ECS Transactions. Vol. 58, (2013), p. 163-170
    KategóriaADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2013
    DOI 10.1149/05810.0163ecst
    článok

    článok

  7. NázovStructural and dielectric properties of Ru-based gate/Hf-doped Ta2O5 stacks
    Autor Paskaleva A.
    Spoluautori Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Atanassova E.
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 257, (2011), p. 7876-7880
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2011
    DOI 10.1016/j.apsusc.2011.04.062
    článok

    článok

  8. TitleGate oxide thickness dependence of the leakage current mechanism in Ru/Ta2O5/SiON/Si structures
    Author Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Paskaleva A.
    Atanassova E.
    Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document Semiconductor Science and Technology. Vol. 25, (2010), 075007
    CategoryADCA - Scientific papers in foreign journals registered in Current Contents Connect with IF (impacted)
    Category of document (from 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Type of documentčlánok
    Year2010
    DOI 10.1088/0268-1242/25/7/075007
    článok

    článok

  9. TitleMeasurement of electrical properties on MOS structure with Ta2O5 gate dielectric layer and Ru-based gate electrodes
    Author Benko P.
    Co-authors Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Paskaleva A.
    Atanassova E.
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document APCOM 2008 : proceedings of the 14th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, June 25-27, 2008, KRÚ Bystrá, Liptovský Ján, Slovak Republic. S. 28-31. - Bratislava : Slovak University of Technology, 2008 / Vajda J. ; Weis M. ; Vančo M. ; Psotka E. ; APCOM 2008 International Conference on Applied Physics of Condensed Matter
    CategoryAED - Scientific papers in domestic peer-reviewed proceedings, monographs
    Category of document (from 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Type of documentpríspevok
    Year2008
    článok

    článok

  10. TitleElectrical characterization of Ru- and RuO2/Ta2O5 gate stacks for nanoscale DRAM technology
    Author Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Co-authors Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Paskaleva A.
    Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Atanassova E.
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Source document ASDAM 2008. P. 267-270 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems
    CategoryAEC - Scientific papers in foreign peer-reviewed proceedings, monographs
    Category of document (from 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Type of documentpríspevok
    Year2008
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.