Výsledky vyhľadávania
Názov Effects of gate shaping and consequent process changes on AlGaN/GaN HEMT reliability Autor Moereke J. Spoluautori Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Uren M.J. Pei Y. Mishra Umesh K. Kuball M. Zdroj.dok. Physica status solidi A. Applications and materials science. Vol. 209, (2013), p. 2646-2652 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2013 DOI 10.1002/pssa.201228395 
článok