Výsledky vyhľadávania
Názov Simulation study of interface traps and bulk traps in n++GaN/InAlN/AlN/GaN high electron mobility transistors Autor Molnár M. Spoluautori Donoval D. Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Marek J. Chvála A. Príbytný P. Mikolášek M. Rendek K. Palankovski V. Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 312, (2014), p. 157-161 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2014 DOI 10.1016/j.apsusc.2014.04.078 
článok