Výsledky vyhľadávania
Názov Application of single-crystal CVD diamond and SiC detectors for diagnostics of ion emission from laser plasmas Autor Ryc L. Spoluautori Calcagno L. Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Margarone D. Nowak T. Parys P. Pfeifer M. Riesz F. Torrisi L. Zdroj.dok. ASDAM 2012 : conference proceedings. P. 255-258. - Piscataway : IEEE, 2012 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems ASDAM 2012 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2012 Názov Application of MSM InP detectors to the measurements of pulsed x-ray radiation Autor Ryc L. Spoluautori Dobrzanski L. Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kaczmarczyk J. Pfeifer M. Riesz F. Slysz W. Surma B. Zdroj.dok. Radiation effects and defects in solids. Vol. 163, (2008), p. 559-567 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2008 Názov Fast MSM InP detectors for measurement of X-ray emission from laser plasmas Autor Ryc L. Spoluautori Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kozlowska A. Krása Josef Králikowá B. Parys P. Pura B. Riesz F. Rohlena K. Skála J. Ullschmied J. Zdroj.dok. . S. 183-186 ASDAM 2004 : conference proceeding of the Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. Smolenice Castle, Slovakia October 17-21, 2004. - Piscataway : IEEE, 2004 / Osvald Jozef 1953 ; Haščík Štefan 1956 Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2004 Názov Evaluation of GaAs and InP MSM detectors for detection of pulsed x-ray emission from laser plasmas Autor Ryc L. Spoluautori Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pfeifer M. Pura B. Riesz F. Slysz W. Zdroj.dok. . p. 280-283 SIMC-XII-2002 : 12th International Conference on Semiconducting & Insulating Materials. - Piscataway : IEEE, 2002 / Breza J. ; 1946 Dubecký František ; 1973 Zaťko Bohumír ; Elektrotechnický ústav SAV ; SIMC-XII-2002 12th International Conference on Semiconducting & Insulating Materials Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2003 Názov Fast semiconductor detectors for detection of x-ray emission from plasmas Autor Ryc L. Spoluautori Dobrzanski L. Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Pfeifer M. Pura B. Riesz F. Slysz W. Zdroj.dok. German-Polish Conf. on Plasma Diagnostics for Fusion and Applications Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2003