Výsledky vyhľadávania
Názov Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique Autor Priesol J. Spoluautori Šatka Alexander 1960 SAVMER - Ústav merania SAV Chvála A. Stoffels S. De Jaeger B. Decoutere S. Zdroj.dok. IEEE Transactions on Electron Devices. Vol. 68, no. 1 (2021), p. 216-221 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.1109/TED.2020.3039756 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Identification of electrically stressed regions.pdf Neprístupný/archív 2 MB 1 Vydavateľská verzia 
článok