Výsledky vyhľadávania
Názov Optical Characteristic Measuring Apparatus : Patent US 8 982 345 B2. (Assignee: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo, Japan) Autor Kawate E. Spoluautori Hain Miroslav 1960 SAVMER - Ústav merania SAV Vyd.údaje United States Patent and Trademark Office , March 17, 2015 Kategória AGJ - Patentové prihlášky, prihlášky úžitkových vzorov, dizajnov, ochranných známok,... Rok vykazovania 2016 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Optical Characteristic Measuring Apparatus.pdf Prístupný 2 MB 2 Vydavateľská verzia 
kniha