Výsledky vyhľadávania
Názov TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices Autor Vilhan Martin SAVMER - Ústav merania SAV Spoluautori Šatka A. Priesol J. Zdroj.dok. Proceedings of ELITECH '19 : 21th Conference of Doctoral Students. P. non. - Bratislava, Slovak Republic : Slovak University of Technology, 2019 / Kozáková Alena ; Juhás G. ; Šály V. ; ELITECH '19 21th Conference of Doctoral Students Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2019 
článok
Názov Simulation analysis of InAlN/GaN monolithic NAND logic cell Autor Chvála A. Spoluautori Nagy L. Marek J. Priesol J. Donoval D. Vilhan Martin SAVMER - Ústav merania SAV Blaho Michal 1983 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šatka A. Zdroj.dok. ASDAM 2018 : The Twelfth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 167-170. - : IEEE, 2018 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E. ; ASDAM 2018 The Twelfth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2018 DOI 10.1109/ASDAM.2018.8544508 článok
Názov Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods Autor Vilhan Martin SAVMER - Ústav merania SAV Spoluautori Šatka Alexander 1960 SAVMER - Ústav merania SAV Priesol J. Zdroj.dok. : 7th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies ADEPT 2019. - Žilina, Slovakia : University of Žilina, 2019 / Jandura D. ; Šušlik Ľ. ; Urbancová P. ; Kováč J., jr. ; ADEPT 2019 7th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2019 článok