Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 5  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^sav_un_auth 0196843^"
  1. NázovControlling surface/interface states in GaN-based transistors: Surface model, insulated gate, and surface passivation
    Autor Asubar J.T.
    Spoluautori Yatabe Z.
    Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Hashizume T.
    Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Vol. 129 (2021), no. 121102
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2021
    DOI 10.1063/5.0039564
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Controlling surface interface states in GaNbased transistors.pdfPrístupný9.7 MB6Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  2. NázovState of the art on gate insulation and surface passivation for GaN-based power HEMTs
    Autor Hashizume T.
    Spoluautori Nishiguchi K.
    Kaneki S.
    Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Yatabe Z.
    Zdroj.dok. Materials science in semiconductor processing. Vol. 78 (2018), p. 85-95
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2018
    DOI 10.1016/j.mssp.2017.09.028
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    State of the art on gate insulation and surface passivation for GaN-based power HEMTs.pdfPrístupný1.6 MB1Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  3. NázovInfluence of oxygen-plasma treatment on AlGaN/GaN metal-oxide-semiconductor heterostructure field-effect transistors with HfO2 by atomic layer deposition: leakage current and density of states reduction
    Autor Stoklas Roman 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Blaho Michal 1983 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Matys M.
    Yatabe Z.
    Kordoš Peter
    Hashizume T.
    Zdroj.dok. Semiconductor Science and Technology. Vol. 32 (2017), no. 045018
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2017
    DOI 10.1088/1361-6641/aa5fcb
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Influence of oxygen-plasma treatment on AlGaNGaN metal-oxide-semiconductor heterostructure field-effect transistors with HfO2.pdfNeprístupný/archív1.5 MB1Vydavateľská verzia
    článok

    článok

  4. NázovCharacterization of capture cross sections of interface states in dielectric/III-nitride heterojunction structures
    Autor Matys M.
    Spoluautori Stoklas Roman 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Adamowicz J.B.
    Yatabe Z.
    Hashizume T.
    Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Vol. 119 (2016), art. no. 205304
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2016
    DOI 10.1063/1.4952708
    URLURL link
    článok

    článok

  5. NázovOn the origin of interface states at oxide/III-nitride heterojunction interfaces
    Autor Matys M.
    Spoluautori Adamowicz J.B.
    Domanowska A.
    Michalewicz A.
    Stoklas Roman 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Akazawa M.
    Yatabe Z.
    Hashizume T.
    Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Vol. 120 (2016), no. 225305
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2016
    DOI 10.1063/1.4971409
    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    On the origin of interface states at oxideIII-nitride heterojunction interfaces.pdfNeprístupný/archív3.1 MB1Vydavateľská verzia
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.