Výsledky vyhľadávania
Názov High-resolution x-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures Autor Pietsch U. Spoluautori Holý V. Baumbach T. Vydanie 2nd ed. Vyd.údaje New York : Springer-Verlag , 2004. - 408 s. Počet ex. 1, z toho voľných 0, prezenčne 1 Druh dok. monografie